芯片鈍化層PCT溫濕度偏壓壽命試驗箱
芯片鈍化層PCT溫濕度偏壓壽命試驗箱是一種用于進行PCT(壓力鍋測試)溫濕度偏壓壽命測試的設備。它主要用于電子、電氣、半導體等產品的可靠性評估,特別是在惡劣環境下模擬產品的使用壽命。該試驗箱通過在高溫高濕的環境中施加高氣壓和偏壓,模擬產品在實際使用過程中可能遇到的壓力和溫濕度變化。通過持續進行溫度循環、濕度循環和偏壓循環等測試,可以加速產品老化過程和失效機理
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2025-11-04 - 02
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