DX-HAST350F電子電路元件 hast 蒸汽老化試驗箱
電子電路元件 hast 蒸汽老化試驗箱(Highly Accelerated Stress Test)是一種用于加速電子元件、集成電路、電子設備等在濕熱環境下老化過程的設備。該試驗箱通過模擬高溫、高濕的環境,快速測試電子元件在高應力條件下的耐久性和可靠性,通常用于質量控制和產品驗證階段。
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2025-11-07 - 02
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